1. 시료 표면에 특정 X선을 입사하여 방출되는 광전자의 운동에너지를 측정함으로써 원자상의 결합에너지를 측정할 수 있습니다. 
2. Ar Ion gun을 이용하여 시료표면의 etching을 통하여 깊이에 따른 조성 분포를 알아보는 Depth profiling 실험도 가능합니다. 
3. 시료표면에 분포 되어있는 원소들의 정량분석도 가능합니다.

1. 예약 하신 후 정해진 날짜 전에 샘플을 전달해 주시기 바랍니다.
※ 예약 후 무단으로 샘플을 가져오지 않을 경우 예약만큼의 비용이 청구됩니다.
2. 파우더 샘플은 측정이 불가합니다.
3. 시료 측정 시 진공이 잡히지 않은 샘플은 측정이 불가합니다.

1. The XPS experiments were performed in an UHV multipurpose surface analysis system (SIGMA PROBE, Thermo, UK) operating at base pressures <10-9mbar.
2. The photoelectron spectra were excited by an Al Ka (1486.6eV) anode operating at constant power of 150 W (15 KV and 10 mA).